双振动台系统通常用于测试长或重的被测试件(DUT)。当被测试件太长或太重时，单个振动台因被测试件尺寸过大或要求推力过大而无法进行试验。为此，设计了双振动台系统作为解决方案。用户可以将较大的尺寸或较重DUT水平或垂直安装在双振动台系统的顶部。常见的布置方式是水平推-推、水平推-拉和垂直振动。

在这里，我们研究了双振动台系统测试的细节。在这种情况下，两个振动台水平并排放置。驱动杆连接振动台电枢和每台振动台的滑台。从技术上讲，这两个振动台是相对放置的，称为推-推，以区别于称为推-拉的面对面放置。

图1 推-推双振动台，安装U型梁

双激励振动台系统包括振动台下的导轨。导轨允许一个振动台左右移动，而另一个振动台可以前后移动。这允许用户按不同的方式放置振动台。下面的照片显示的导轨上的振动台。

图2 导轨允许振动台以不同的方式布置

传感器安装在台面的前部。由于振动台是面对面的，所以传感器也是相对的。为了使两个振动台同步，这两个控制传感器之间的相位必须设置为180度。如果错误地将其设置为0度，可能会对振动台系统造成损坏。

图3 控制传感器位置

采用EDM MIMO随机控制器Spider-80M对双振动台系统进行控制。晶钻仪器提供广泛的振动控制功能，包括MIMO随机、MIMO正弦、MIMO冲击、MIMO TTH、 MIMO SRS和MIMO TWR。

测试设置从振动台配置开始。选择双振动台推-推配置，并将驱动器标记为X1和X2。下图是RMS为3g的随机目标谱。

图4 控制目标谱

控制方法设置为“Mag and Phase”。 因为两个控制传感器相对布置，为了使两个振动台同步运行，两个控制器之间的相位设置为180度。

由于U型梁刚性地固定在两个滑台上，因此最好在振动台之间不旋转。为了适应这种刚性连接，使用了分步预测试。有了这个设置，两个振动台将分别单独驱动系统一次，计算出控制与驱动的频率响应函数矩阵的一列。当两个振动台完成预测试时，构造一个2×2频响矩阵，作为即将进行的MIMO控制的控制矩阵。

以下是运行过程中MIMO随机测试的截图。控制通道的控制谱和目标谱吻合得很好。